IEC 62215 - 3 ed 1.0:集成电路,测量脉冲免疫-第3部分:非同步的瞬态注射方法
国际电工委员会webstore:
”IEC 62215 - 3:2013指定一个方法测量集成电路(IC)的免疫标准化进行电快速瞬变干扰。干扰,不一定同步的操作测试设备(DUT),应用于集成电路引脚通过耦合网络。这种方法使理解和分类进行了瞬态干扰之间的相互作用和性能退化引起的ICs不管瞬变或超出指定的操作电压范围内。”
EMI / EMC工程师
IEC 62215 - 3 ed 1.0:集成电路,测量脉冲免疫-第3部分:非同步的瞬态注射方法
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”IEC 62215 - 3:2013指定一个方法测量集成电路(IC)的免疫标准化进行电快速瞬变干扰。干扰,不一定同步的操作测试设备(DUT),应用于集成电路引脚通过耦合网络。这种方法使理解和分类进行了瞬态干扰之间的相互作用和性能退化引起的ICs不管瞬变或超出指定的操作电压范围内。”